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    熒光膜厚計

    更新時間：2024-06-24

    熒光膜厚計采用中文視窗操作測量係統解析度0.001µm小測量麵積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

    熒光膜厚計特點：


    中文視窗操作測量係統
    解析度0．001um， 小測量麵積0．1mmΦ
    可測量合金層之厚度和組成比例
    可測量兩層以上鍍層之個別厚度
    藉由光譜分析可判定被測物之元素
    適用對象：1C導線架，封裝業、PCB業、精密零
    件業、電鍍業、電子業。

    		 

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     
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